誤差期設(shè)置:50%、10%、1%(0);
充電電壓:0~5.5kV;
計時器量程:1-99.99s;
電壓表量程:0-5kV;
計時分辨率:0.01s;
顯示:指針式充電電壓表(右)、指針式試樣電壓表(左)、數(shù)顯計時器(中),彩色LED燈指示各個操作進程;
測試模式:手動、自動(只能測試從5kV開始的衰減);
自動測試次數(shù):1-9次;
測試時間間隔:1-25秒;
輸入電源:86-264VAC,50/60Hz。
406D裝備的磁吸棒用于薄膜和布疋資料的測驗;金屬夾具能夠測驗較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的資料。選配IC管型夾具能夠無損測驗IC芯片包裝管;選配806B無損測驗電極能夠直接放置在試樣上,還能夠測驗粉體和液體靜電衰減時刻。
配套法拉第測驗籠供給一個屏蔽空間,試樣放置在法拉第籠內(nèi)進行測驗,法拉第籠經(jīng)過配套銜接線銜接406D主機。法拉第籠具有互鎖設(shè)備,翻開法拉第籠時,高壓電源輸出被堵截。
STM-2驗證模塊供給一個規(guī)范的電阻,電容直接采取體系電容。經(jīng)過測驗STM-2規(guī)范模塊能夠驗證是不是正常。
法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭能夠卸下,放置在806B無損電極上后,能夠直接測驗粉體、液體和固體試樣。
美國無紡布靜電衰減測試標(biāo)準IST 40.2(01),,中國GB 19082,GJB2625
訂購標(biāo)準配置:
406D測試主機;
磁性固定電極;
法拉第測試籠;
條形夾具;
STM-2驗證模塊。
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